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振動(dòng)檢測(cè)試驗(yàn)臺(tái)檢測(cè)樣品的目的

點(diǎn)擊次數(shù):2309更新時(shí)間:2013-02-28

 

振動(dòng)檢測(cè)試驗(yàn)臺(tái)檢測(cè)樣品的目的

 

         振動(dòng)檢測(cè)試驗(yàn)臺(tái)主要是確定元器件設(shè)備經(jīng)受規(guī)定嚴(yán)酷等級(jí)的隨機(jī)振動(dòng)的能力。振動(dòng)檢測(cè)試驗(yàn)臺(tái)適用于在使用中可能受到隨機(jī)性振動(dòng)條件影響的元器件和設(shè)備,試驗(yàn)樣品要經(jīng)受在寬頻帶范圍內(nèi)給定等級(jí)的隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)。振動(dòng)檢測(cè)試驗(yàn)臺(tái)的目的是在于確定機(jī)械弱點(diǎn)和規(guī)定性能是否下降,并結(jié)合有關(guān)規(guī)范使用這些信息來(lái)決定試驗(yàn)樣品是否接收。


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